Программно-аппаратный комплекс для тестирования интегральных микросхем 155 серии

Тольяттинский Государственный Университет

Электротехнический факультет

Кафедра “Промышленная электроника"

КУРСОВАЯ РАБОТА

"ПРОГРАММНО-АППАРАТНЫЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ 155 СЕРИИ"

Студент: Моторин С.К.

Группа: Э-506

Преподаватель: Бредихин Б.В.

Тольятти 2004

Содержание

Введение

1. Техническое задание

2. Инженерная интерпретация задачи

3. Разработка обобщенной блок-схемы алгоритма работы контроллера

4. Разработка интерфейса программно-аппаратного комплекса

5. написание подпрограммы тестирования интегральной микросхемы К155ЛА1

6. Выбор расчет элементов схемы

Заключение

Список литературы.

Введение

В настоящее время, производство радиоэлектронных компонентов и микросхем очень распространено. Однако при их производстве возникает вопрос работоспособности изготовленного элемента. Так как качество получаемого элемента зависит от внутренней структуры материала, в которой могут быть дефекты. В данном случае элемент окажется неработоспособным. Поэтому необходимо после изготовления проводить испытания, по результатам которых делать выводы о работоспособности элемента. Устройства, проводящие проверку правильности функционирования, называют тестерами. При проверке работоспособности интегральных микросхем целесообразно использовать универсальные тестеры, способные тестировать несколько типов микросхем. Задачей данного курсового проекта является разработка программно-аппаратного комплекса для тестирования интегральных микросхем 155 серии.

1. Техническое задание

Разработать программно-аппаратный комплекс (микропроцессорный контроллер) для тестирования интегральных микросхем. Тестер должен выполнять функциональный контроль интегральных схем по принципу "годен" - "не годен". Тестированию подвергаются интегральные микросхемы, имеющие корпус DIP14 с 14 выводами и стандартное подключение питания: 14 вывод - "+5В", 7 вывод - "общий". Общее число типов проверяемых интегральных схем не более 256.

Составить подпрограмму тестирования интегральной микросхемы К155ЛА1.

2. Инженерная интерпретация задачи

Для разработки программно-аппаратного комплекса тестера использовали микроконтроллер КМ1816ВЕ51. Основные параметры микроконтроллера приведены в табл.2.1, условное графическое изображение - на рис.2.1

Таблица 2.1

Основные параметры микроконтроллера КМ1816ВЕ51

Название параметра	Значение параметра
Объем резидентной памяти программ, Кбайт	4
Объем резидентной памяти данных, байт	128
Частота тактовых импульсов, МГц	12
Число портов ввода/вывода, шт	4
Напряжение питания, В	+5

Интегральная микросхема, для которой необходимо написать программу тестирования - К155ЛА1. Микросхема представляет собой два логических элемента 4И-НЕ. Таблица истинности элемента 4И-НЕ представлена в табл.2.2, условное графическое изображение показано на рис.2.2

Таблица 2.2

Таблица истинности элемента 4И-НЕ.

Входы				Выходы
X1X5	X2X6	X3X7	X4X8	Y1Y2
0	0	0	0	1
0	0	0	1	1
0	0	1	0	1
0	0	1	1	1
0	1	0	0	1
0	1	0	1	1
0	1	1	0	1
0	1	1	1	1
0	0	0	0	1
0	0	0	1	1
0	0	1	0	1
0	0	1	1	1
0	1	0	0	1
0	1	0	1	1
0	1	1	0	1
0	1	1	1	0

Питание микроконтроллера осуществляется через вывод 40, а микросхемы К155ЛА1 через вывод 14. Общий вывод микроконтроллера вывод 20, а микросхемы К155ЛА1 вывод 7.

Схемное изображение микроконтроллера КМ1816ВЕ51

Рис.2.1.

Схемное изображение интегральной микросхемы К155ЛА1

1,2,4,5,9,10,12,13 - входы X1-X8; 6 - выход Y1; 7 - общий; 8 - выход Y2; 14 - напряжение питания;

Рис.2.2

Работа тестера проходит следующим образом:

В начальный момент времени питание тестера отключено, соответственно на выходе контроллера какие-либо сигналы отсутствуют. В момент включения питания тестера, подается питание на контроллер, который переходит в состояние ожидания команды на тестирование. Выполнение данной команды осуществляется нажатием кнопки "тест" - SB2. Питание тес

Внимание, отключите Adblock

Вы посетили наш сайт со включенным блокировщиком рекламы!
Ссылка для скачивания станет доступной сразу после отключения Adblock!

Скачать